非接觸電阻率測試儀

設備主要利用渦電流測試原理，非接觸測試半導體材料，石墨烯，透明導電膜，碳納米管，金屬等材料的方阻（電阻率）。
可實現(xiàn)單點測試，亦可以實現(xiàn)面掃描的測試功能，可用于材料研發(fā)及工藝的監(jiān)測及質量控制

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廠商性質：生產廠家
更新時間：2025-06-26
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人們通常將材料分為導體、半導體和絕緣體三個大類。金屬材料是良好的導體材料，在電力方面，鋁及鋁合金和銅及銅合金材料是金屬材料中使用比較廣泛的導電材料，導電性能是這些材料關鍵的技術指標。衡量材料的導電性能的常見電性能參數(shù)有：電阻率、電阻、電導、電導率、導電率以及電阻溫度系數(shù)、電阻率溫度系數(shù)等。我公司新研發(fā)渦流法電阻率測試儀，非接觸式測試，不損傷晶圓表面，方面快捷。

渦流法主要用于非接觸式，可測量1E-3（1m）至1E + 4（10k）Ω/□電阻范圍。

它可用于半導體，化合物半導體，液晶和新型碳基材料等廣泛領域的測量。

渦流測量系統(tǒng)使用電磁感應產生的渦流來測量電阻。

非接觸式測量探頭單元的探頭芯（磁性材料）在兩側（上下）以一定的間隙排列

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